追求合作共贏
Win win for you and me售前售中售后完整的服務(wù)體系
誠信經(jīng)營質(zhì)量保障價(jià)格實(shí)惠服務(wù)完善當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品展示 > 材料光學(xué)檢測儀器 >
相關(guān)文章
Related Articles硅片親水性測量儀的儀器$n本公司儀器采用現(xiàn)代化工藝制造,儀器采用高速CCD數(shù)字?jǐn)z像機(jī),配倍高分辨率變焦式顯微鏡和高亮度LED背景光源系統(tǒng),搭配三維樣品臺,可進(jìn)行工作臺上下、左右、前后等方向移動(dòng)。實(shí)現(xiàn)微量進(jìn)樣及上下、左右精密移動(dòng)。同時(shí)還設(shè)計(jì)了伸縮桿結(jié)構(gòu)工作臺,能適應(yīng)在不同用戶材料厚度加大的場合。儀器框架可以根據(jù)式樣的大小適量調(diào)節(jié),擴(kuò)大了儀器的使用范圍。
光學(xué)透過率LS108H光學(xué)透過率測量儀是一款臺式光學(xué)透過率儀,主要用于有機(jī)材料、玻璃、PC材料透光率測試,測試孔徑3mm,適合小尺寸材料的透光率、紅外線和紫外線透過率測量,平面臺式設(shè)計(jì),方便放置測試樣品,即放即測,測試快速數(shù)據(jù)精準(zhǔn)。
全波長透過率譜分析儀Sphere3000是一套全波長顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀,能快速準(zhǔn)確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
光學(xué)鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù),包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等??蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。
可同時(shí)進(jìn)行 SCI 和 SCE 測量,并通過液晶面板顯示 SCI /SCE 數(shù)據(jù);
技術(shù)參數(shù)符合 GB2410-2008 ASTM D1003-61(1997) JIS K7105-81 等測試標(biāo)準(zhǔn)